脈沖式線圈測(cè)試儀 數(shù)字式匝間儀 型號(hào)：YG212B-05

工作原理

YG212系列脈沖式線圈測(cè)試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制脈沖發(fā)生器對(duì)線圈施加一次短時(shí)間的脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號(hào)經(jīng)高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后反饋至MCU信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運(yùn)算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存儲(chǔ)器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件,對(duì)合格或不合格者進(jìn)行報(bào)警處理。

脈沖式線圈測(cè)試儀（即數(shù)字式匝間儀）可的、非破壞性的對(duì)有線圈繞組的部件進(jìn)行電氣試驗(yàn)。其原理是對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈繞組和被測(cè)試?yán)@組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態(tài)波形，以測(cè)試被測(cè)線圈的品質(zhì)。瞬態(tài)波形也就是線圈內(nèi)發(fā)生的衰減振蕩的波形，他可同時(shí)判斷該繞組的電感、品質(zhì)因素、繞組的圈數(shù)差及匝間短路情況，在有鐵芯的情況下，還可以判斷其材質(zhì)的差別等。在施加脈沖的情況下，電暈放電的發(fā)生還可以對(duì)緣不良進(jìn)行判斷。總之，標(biāo)志線圈品質(zhì)的各個(gè)要素，可以在短時(shí)間內(nèi)檢查完成。

本廠的YG212系列脈沖式線圈測(cè)試儀，采用微型計(jì)算機(jī)技術(shù)把波形的各種參數(shù)量化處理，再用直觀的波形進(jìn)行顯示和判斷，操作簡(jiǎn)單，判斷準(zhǔn)確，自動(dòng)化程度高。該儀器體積小，重量輕，便于攜帶。